移动密集架是一种结构很复杂的档案装具，大小接近二十种配件，有些配件一目了然不需要描述，下面我们就讲述几种密集架配件作用的说明：
　　一、档案密集架顶部均需要设置防尘板，该配件主要作用是用于放置尘埃进入架体当中，造成架体内存放的文件被尘埃弄脏，但是防尘板并不是的防尘，尘埃都是很小的物质，难免会进入到架体当中，防尘板的作用仅仅是大大减少尘埃进入架体中，因此客户稍微清理下尘埃，使用全封闭型密集架的防尘作用会大于开放式密集柜的防尘作用.

为了应对层出不穷的场景，是德科技推出了两款商用产品：仿真视图软件，可通过实时射频建模和动态高保真可视化显示，支持快速开发、集成和测试复杂的电子战系统。UXG捷变矢量适配器，现在包括2GHz、4GHz和44GHz等型号。该适配器具有快速、低时延的频率、相位和幅度切换能力，并支持实时脉冲描述字（PDW）数据流传输。PDW是用于创建雷达信号的数据。是德科技的这个产品组合将计量级的测试能力带给客户，让客户可以获得高质量、可重复的测试结果，同时缩短前导时间并降低成本。
即整个无线电台从高频、中频、基带直到控制协议部分全部由软件编程来完成。其核心思想是在尽可能靠近天线的地方使用宽带的"数字/模拟"转换器，尽早地完成信号的数字化，从而使得无线电台的功能尽可能地用软件来定义和实现。总之，软件无线电是一种基于数字信号处理(DSP)芯片，以软件为核心的崭新的无线通信体系结构。NIPXI-566射频信号分析仪NIPXI-566射频信号分析仪是虚拟仪器和软件无线电技术的综合体现。
　　二、除前面一列的外侧以及后面一列的外侧没有密封装置之外，其余列数中均需要安装密封装置，密封装置简称密封条，该密封条材质等同于冰箱封条，具有抗老化、结合紧密、不变形的的作用，同时让架体之间合拢时不发生碰撞，起到缓冲的作用.
　　三、侧面板加上密封条的宽度大于底架的宽度，导致架体在整体闭合时，底盘出现缝隙，老鼠可能钻进架体中，造成档案破坏，因此在地盘上应装有防鼠板，是闭合后的密集柜缝隙减小.
　　四、档案密集架每列在摇手柄位置下方应装有制动装置，当档案管理人员进入架体工作时，要将制动装置旋转至off位置，锁紧密集架，使其不能够移动，保证架体内的档案管理人员的人身安全，当工作结束之后，密集柜闭合时也应将制动装置锁紧，保证档案文件的安全性.

为欧氏空间遥测的同相位系统实验室演示器建立数字控制系统，用于将遥测臂之间的光学路径差维持在10nm之内，这是确保有效卫星操作的必要条件。欧氏空间望远镜是为高分辨率光学检测而优化的干涉仪仪器，利用对成孔径技术对地理静态轨道进行检测。为了获得需要的同相位、所需的分辨率，就要使用复杂的计量和控制系统，以便确保光学配置具有必要的稳定性。集成了一个演示器（称为MIT，Michelson干涉仪测试台）用于对欧氏空间望远镜的两个关键系统进行验证，以便达到同相位条件，以及在Michelson干涉仪仪器中达到的稳定边缘图案样式。
LED灯具作为节能项目的重要手段，正得到越来越广泛的应用。而大型LED灯具同样有相对较大的发热量，散热结构的好坏影响着LED灯具的质量及寿命，红外热像仪通过检测LED灯具散热器表面的温度分布，帮助工程师改善散热设计，提高LED灯具的产品质量及寿命。为什么要对LED灯具进行散热由于LED的功率在不断提高，及空间具有一定局限性，LED灯具散热成了比较突出的问题，需要开发更加专业的散热器才能在今后满足LED灯具对于散热的更高需求。
　　五、在底架下方都应装有防倒勾，在密集架正常运行时放倒钩与轨道等间隙中滑动，当架体受到外力或者较大惯性时，通过地盘上的放倒钩将力传到轨道上，并通过连接轨道的与地面的膨胀螺丝传到地面，保证架体不发生倒塌，不过档案管理人员在使用密集架时应当注意，缓缓摇动密集柜摇盘手柄，不应当摇的太急或者用力太猛，否则有可能因为惯性的原因导致档案文件从架体滑落也可能导致放倒钩失效密集柜倒塌。

世界半导体工业界预测，这种进步至少仍将持续10到15年。面对现有的晶体管模式及技术已经临近极限，借助芯片设计人员巨大的创造才能，使一个个看似不可逾越的难关化险为夷，硅晶体管继续着小型化的步伐。近期美国科学家的科技成果显示，将10纳米长的图案压印在硅片上的时间为四百万分之一秒，把硅片上晶体管的密度提高了100倍，同时也大大提高了线生产的速度。这一成果将使电子产品继续微小化，使摩尔定律继续适用。
红外摄像机因为无损检测使用的红外摄像机要以高灵敏度捕捉瞬变现象，因此需要有高时间分辨率的高帧速率。每个像素的空间分辨率由与红外摄像机一起使用的透镜所决定的空间分辨率视角决定，如要检测大型目标和精细区域，要使用高像素的红外摄像机。2.光激发无损检测-光学增强方法的基本原理为光激发无损检测装置概图。该方法分为所示的脉冲热成像和所示的锁相热成像两种。-脉冲热成像的基本原理脉冲热成像方法通过瞬间灯光激发使测量对象出现温度上升,在温度下降的过程中，通过图像显示正常位置和缺陷位置出现的温度变化和时间相位滞后。