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商品详情
日本napson热电动势接触式PN探测器
热电动势接触式PN探测器
产品名称：PN-12α
产品图片（可根据客户要求进行各种定制）
产品特点
样品的导电类型（PN）通过将其与笔型探头（热/冷探头集成型）接触来确定
兼容单晶硅晶片，块和锭
*对于难以使用集成探头判断的样品，您还可以选择热/冷探头/分离类型。
测量规格
测量对象
与半导体/太阳能电池材料有关（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
30x30mm以上
测量范围
可用于PN测定的样品电阻率范围：1 m至20kΩ·cm
*不能部分确定多晶硅，带有膜的晶片以及表面呈镜面状态或被氧化的样品
热电动势接触式PN探测器
产品名称：PN-12α
产品图片（可根据客户要求进行各种定制）
产品特点
样品的导电类型（PN）通过将其与笔型探头（热/冷探头集成型）接触来确定
兼容单晶硅晶片，块和锭
*对于难以使用集成探头判断的样品，您还可以选择热/冷探头/分离类型。
测量规格
测量对象
与半导体/太阳能电池材料有关（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
30x30mm以上
测量范围
可用于PN测定的样品电阻率范围：1 m至20kΩ·cm
*不能部分确定多晶硅，带有膜的晶片以及表面呈镜面状态或被氧化的样品
日本napson热电动势接触式PN探测器
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