CMI257 — 通用型(绳型探针)英国牛津Oxford
CMI257 — 通用型(绳型探针)英国牛津Oxford
产品价格:¥0(人民币)
  • 规格:CMI257
  • 发货地:上海
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    商品详情

      CMI257 — 通用型(绳型探针)英国牛津Oxford

      CMI257多功能测厚仪涂层厚度测量仪,主要用于需要快速、简易、精确和重复测量的专业质保人员。

      与基础型的检测设备相比,两用型技术(磁感应与涡流)仪器具有数据统计、更高的精度和橡胶外壳的耐久性设计,且符合IP52环境保护标准。

      CMI257独有绳型探针,能更好的用于多种不同测量位置的作业。且该仪器拥有集成探针,也能获得相同性能。
      CMI257独有的绳型探针,可以在难以到达的位置进行测量。 
      产品特点: 
      → 数据统计功能 
      → 基体归零功能 
      → 工厂校准 
      → 自动基底探测 
      → 集成或外置的探针设计 
      → IP52防尘防水保护 
      常规型 :
      对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。 
      覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。 
      覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 
      X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 
      随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。 
      采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。


      经营范围:
      销售机电产品、机械设备、自动化设备、环保设备、电线电缆、汽摩配件、建材、金属材料及制品、五金交电、仪器仪表、通讯产品及器材、办公用品、计算机软硬件及辅助设备(除计算机信息系统安全专用产品)、橡塑制品,商务信息咨询,投资管理,机电设备维修,计算机、机械设备专业领域内的技术咨询、技术服务。




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