简要说明：牛津Oxford牌的Oxford CMI760台式铜箔测厚仪华东经销商产品：估价：0，规格：完善，产品系列编号：齐全

Oxford CMI760台式铜箔测厚仪华东经销商

PCB通孔和铜表面测量表 - CMI760

CMI760 PCB通孔和铜表面测量表是专为PCB电子制造商设计的台式涂层厚度计。

高度通用的CMI760涂层厚度计专为需要在PCB板上快速，简便，准确和重复的通孔测量以及刚性，柔性，单面和双面或多层铜镀层测量的应用而设计 PCB板。

CMI 700	SRP-4 Probe - Surface Copper Measurements	SRP-4N Probe - Surface Copper Measurements (narrow tip)	ETP Probe - Through-Hole Measurements
CMI760	Yes
CMI760N		Yes
CMI760E	Yes		Yes
CMI760EN		Yes	Yes

尺寸规格：
内存容量：8000字节，非易失性
尺寸：11 1/2“（宽）x 10 1/2”（D）x 5 1/2“（H）（29.21×26.67×13.97厘米）
重量：6磅。 （2.79kg）
单位：使用击键自动转换英制和公制
单位转换：从mils，μm，μin，mm，in。或％中选择显示单位
输出：并行打印机端口和RS232串口
显示屏：大LCD 480（H）x 32（V）像素，背光，广角视图
统计显示：读数，标准偏差，平均值，高，低
图表：直方图，趋势，x-Bar和r

SRP-4探头规格：
精度：±1％（±0.1μm）参考标准
精度：无电镀铜：0.2％标准偏差
典型的电沉积铜：典型值为0.3％标准偏差
分辨率：0.01密耳> 1密耳，0.001密耳<1密耳，0.1μm>10μm，0.01μm<10μm，0.001μm<1μm
厚度范围：铜：10μin-10密耳（0.25μm-254μm），细线测量：迹线宽度8密耳至3000密耳（203μm至76.2mm）

ETP探针规格：
精度：±0.01密耳（0.25μm）<1密耳（25μm）
精度：典型值为1.2密耳时为1.0％
分辨率：0.01密耳（0.25μm）
涡流：符合ASTM E376方法
厚度范围：0.08〜4.0密耳（1〜102μm）
最小孔尺寸：35密耳（899μm）

笃挚仪器（上海）有限公司的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业，用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能，推动着先进制造技术的精益求精。