详细介绍:
探伤检测是指探测金属材料或部件内部的裂纹或缺陷。
常用的探伤方法有:X光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤(着色探伤)、涡流探伤、γ射线探伤、萤光探伤等方法。
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X和γ射线的波长短,能够穿过一定厚度的物质,并且在穿透的过程中与物质中的原子发生相互作用。这种相互作用引起辐射强度的衰减,衰减的程度又同受检材料的厚度、密度和化学成分有关。因此,当材料内部存在某种缺陷而使其局部的有效厚度、密度和化学成分改变时,就会在缺陷处和周围区域之间引起射线强度衰减的差异。如果用适当介质将这种差异记录或显示出来,就可据以评价受检材料的内部质量。
X射线检验和γ射线检验,基本原理和检验方法无原则区别,不同的只是射线源的获得方式。X射线源是由各种X射线机、电子感应加速器和直线加速器构成的从低能(几千电子伏)到高能(几十兆电子伏)的系列,可以检查厚至600mm的钢材。γ射线是放射性同位素在衰变过程中辐射出来的。
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