日本DENSOKU电测QNIx系列 更容易测量麻烦的薄膜厚度 QNIx系列产品只需一个超轻便的紧凑型仪器和探头即可测量薄膜厚度，无需携带厚膜厚度计。 QNIx系列的特点 提供出厂时输入的16点校准数据。这消除了对麻烦的胶片校准工作的需要并且能够进行的膜厚度测量。 薄膜厚度测量数据传输的新技术 传统的测量仪器通过将测量仪器和PC与电缆连接来传输测量数据。 QNIx系列使用“无线Dongle”，只需将其插入USB端口即可进行传输。可以快速轻松地查看测量数据。 超轻型无线测量仪器 探头测量的数据无线传输到主机。降低像常规产品一样被抓住或妨碍并导致事故的风险。此外，探头重30克，无需携带重型仪器。 探头难以断裂，不会在工件上留下痕迹 QNIx系列探头被增强塑料包围，耐用性提高了30％。即使它发生故障，也可以轻松拆卸和维修，缩短维修周期。此外，还附有红宝石芯片，可在不损坏样品（样品）的情况下进行安全测量。 便携式薄膜厚度计型号代码指导 [F]黑色金属材料的非磁性薄膜厚度测量 [N]对有色金属材料的非导电薄膜厚度测量 [FN]使用单个探针测量黑色和有色金属材料的薄膜厚度 [T]微探针 [M]测量数据存储功能，数据传输到PC 日本DENSOKU电测Beta线膜厚度计BTC-221 从薄到厚 ·使用个人计算机大大提高了可操作性和功能。 β线膜厚度计BTC-221的特点 使用个人计算机可以大大提高可用性和功能。 从薄到厚的物体测量，精度高 通过改变辐射源，可以高精度地从薄物体到厚物体进行测量。 可以测量小面积 可以通过更换面罩来测量小面积。有各种口罩可供选择。 轻松编程特殊校准曲线 可以进行多点校准输入（2到9个点），并且可以轻松编程特殊校准曲线。 轻松计数校正 可以随时进行计数校正，并且可以在不加热GM管的情况下进行高精度测量。 多可存储40条用于测量的校准曲线 多可存储40条用于测量的校准曲线。存储的校准曲线可以复制到其他通道。 校准曲线可以通过材料的单点校正进行重新校准 校准曲线可以通过材料的单点校正进行重新校准。 设置上限和下限 您可以设置有效测量值的上限?6?7?6?7和下限。 测量膜厚度和组成比 合金膜可以测量膜厚度和组成比。 可以在直径为80mm或更大的管道中进行测量 如果φ80mm或更大，则可以在管道中进行测量。 可以随时删除由于测量误差导致的薄膜厚度值 可以随时删除由测量误差引起的膜厚值。 时间和单位可以任意设定 测量时间可以任意设置1至999秒。可以随时更改测量单位，μm，MI，mil，成分％和计数％，并自动转换测量值。 当物质被β射线照射时，其部分被吸收并且其一部分被透射。 有些是透明的。 一些向后散射，剂量根据材料的厚度和外来电子的数量（电子数量）而变化。 由于随着厚度增加直到其达到不能检测到剂量增加的饱和厚度，反向散射量增加（或减少），所以可以通过比较基板的反向散射量与涂层的反向散射量来测量厚度。你。 日本DENSOKU电测电阻膜厚度计RST-231 操作简单，时间短（0.7秒） 高精度测量绝缘体上的金属薄膜 ·在0.7秒内测量绝缘体上的金属膜 电阻膜厚度计RST-231的特点 在短时间（0.7秒）内高精度地测量绝缘体上的金属膜（绝缘铜箔，电镀等）。 易于阅读的屏幕配置 使用PC时，屏幕结构大而明亮，易于查看。 易于校准和测量 易于校准和测量。可以选择两种类型的测量范围（2至24μm，10至120μm）。 可以立即看到各种数字 统计处理后，立即可以使用直方图，配置文件和x-R图表。 异常值检测功能 如果设置上下薄膜厚度限制，将通知您异常值。 支持每个探头的更换 如果探头损坏，可以更换每个探头，并且可以低成本进行维修。 易于统计处理 可以为每个通道保存测量数据，并且可以稍后为测量数据设置统计项以执行统计处理。 多可注册40个频道 多可注册40个通道，因此您可以通过用户名或部件号单独注册来管理通道。 支持每个探头的更换 使用四探针探针（开尔文型），并且可以高精度地测量双面和多层基板，而不受背面和内层的影响。 日本DENSOKU涡流膜厚度计D-20 小巧便携 ·重量轻，结构紧凑，重量为2.0kg 涡流膜厚度计D-20的特点 你可以携带它。 可立即测量 可以在开关打开的同时进行测量。测量时间也在1秒内。 高稳定性（±1％）高精度 通过晶体振荡方法具有高稳定性（±1％）和高精度。 可以100％检查 100％检查是可能的，因为它是非破坏性的。 无需转换 不需要直接转换。 兼容各种测量 可以在金属上测量薄膜，电镀，涂漆，树脂等（例如：在铝上镀氧化膜，在铁上镀锌等）。 成为专用的测量仪器 只需更换刻度盘，它就成了专用的测量仪器。 测量面积3m2以上 兼容3m2或更大的测量区域。 还测量非金属上的金属膜 可以测量非金属上的金属薄膜（例如塑料上的镀层）。 即使在曲面，球体和管道内也可以进行测量 即使对于弯曲和球形表面也可以进行测量。它还可以测量管道的内表面（φ12.7mm或更大）。 当已经通过高频电流的探针（测量线圈）接近金属时，在金属表面层中产生涡电流。 该涡电流受到高频磁场的强度和频率，金属的导电性，厚度和形状的影响，并且穿透深度和尺寸变化。 日本DENSOKU涡流膜厚度计DS-110 晶体振荡精度高 ·测量值显示数字且易于阅读 涡流膜厚度计DS-110的特点 测量值显示是数字的，易于阅读。 可立即测量 可以在开关打开的同时进行测量。测量时间也在1秒内。 高稳定性（±1％）高精度 通过晶体振荡方法具有高稳定性（±1％）和高精度。 可以100％检查 100％检查是可能的，因为它是非破坏性的。 无需转换 不需要直接转换。 兼容各种测量 可以测量金属上的薄膜，电镀，涂层，树脂等。 （例如：在铝上镀锌，在铁上镀锌等） 多可保存1000个数据 可以使用一条检测线保存1000个数据。 还测量非金属上的金属膜 可以测量非金属上的金属薄膜（例如塑料上的镀层）。 可以测量4种标准和多70种薄膜厚度。 通过切换开关，可以测量多达4种类型的薄膜厚度。此外，通过更换制造商处的检查线，可以测量超过70种类型的膜厚度。 即使在曲面，球体和管道内也可以进行测量 即使对于弯曲和球形表面也可以进行测量。它还可以测量管道的内表面（φ12.7mm或更大）。 打印输出功能 打印出测量数据和统计处理值 当已经通过高频电流的探针（测量线圈）接近金属时，在金属表面层中产生涡电流。 该涡电流受到高频磁场的强度和频率，金属的导电性，厚度和形状的影响，并且穿透深度和尺寸变化。 日本DENSOKU涡流膜厚度计DMC-211 高速和可操作性 ·1秒内无损测量，100％检测 涡流膜厚度计DMC-211的特点 几乎所有金属薄膜（铝上的氧化膜，铁上的锌/铬镀层等），非金属上的大多数金属薄膜（塑料上的电镀等）在短时间内（1秒内）无损测量，非常适合100％检测。 使用PC轻松操作 通过使用个人计算机进行校准和测量等简单操作。可以选择各种测量模式，便于测量螺钉头，线材和压铸产品等小零件。 配备[自动导入]模式 在[自动采集]模式下，只需将探头放在待测物体上并松开即可自动获取测量值。 丰富的特征曲线记忆（校准曲线） 70个自动选择特性曲线（校准曲线）作为标准存储。对于特殊材料，如果有标准板，则可以创建并输入新的特征曲线（校准曲线）。 公司信息渠道注册功能 可以为每个渠道注册公司名称，部件号和批号。 配备统计处理功能 可以为每个通道保存测量数据，并且可以在以后统计设置和统计统计项目。 计量单位 测量单位是mm，μm，mil，MI。 日本DENSOKU电测電解式膜厚計CT-3 重量轻，机身小巧 各种电镀测量的高可操作性和功能性 ·轻巧，紧凑的机身，体重3.0kg 电解膜厚度计CT-3的特点 轻巧，极其紧凑的机身，体重3.0kg。 增加了高灵敏度范围 灵敏度可以设置为比以前的型号更高的灵敏度，并且可以提高测量稳定性。 广泛的校准范围 通过标准板校准的校准范围宽达±15％。 可以达到1/100的范围 可以处理Au，Cr等的薄膜电镀的1/100范围（以0.001μm为单位的测量）是可能的。 三种类型的垫圈范围是标准设备 有三种类型的垫圈可供选择：3.4φ，2.4φ和1.7φ。 主动功能 有源功能可以去除一些氧化膜，从而减少氧化膜引起的测量失败 易于设置范围 由于使用了所有刻度盘设置，因此可以轻松实现要测量的镀层的适合设置。 日本DENSOKU电测電解式膜厚計CT-4 0.006至300微米，各种厚度 ·易于操作，易于阅读的屏幕 电解膜厚度计CT-4的特点 屏幕大，明亮，易于查看，易于操作。 提高电流精度 目前的准确度已得到显着改善。 可以检查表面处理方法 您可以检查测量部件的表面处理方法。 测量条件多可设置为5层 多层涂层可以设置多达5种测量条件。 多可注册50个频道 多可以注册50个测量通道。 可分别测量纯锡层和合金锡层 对于纯锡层和合金锡层，可以分别测量镀锡。 自动显示所用电解质的类型 所用电解质的类型根据薄膜和基材的组合自动显示。 内置统计处理功能 通过统计处理功能，可以在屏幕上显示数据。 5种数据处理方法 有五种数据处理方法。 用日文打印 打印机使用热敏卷纸，可以用日文打印。 每单位面积的重量计算 您可以计算每单位面积的重量。 日本DENSOKU电测電解式膜厚計GCT-311 Windows规范， ·使用个人计算机，操作简单，功能增强 电解膜厚度计GCT-311的特点 使用个人计算机可改善可操作性和功能。 轻松的数据处理 使用Windows规范可以轻松进行数据处理。 多可注册50个频道 多可以注册50个测量通道。 多层涂层，多5层 多层涂层可以设置多达5种测量条件。 发生异常值时内置警告功能 当由于上限和下限设置而发生异常值时，测量值将显示为红色并显示警告声。 自动显示所用电解质的类型 所用电解质的类型根据薄膜和基材的组合自动显示。 轻松确认显示处理方法 您可以检查测量单元的显示处理方法。 可分别测量纯锡层和合金锡层 对于纯锡层和合金锡层，可以单独测量“锡/铜”测量。 轻松测量双镍和三镍之间的电位差 通过使用参比电极（可选）和电位图测量，可以容易地测量双镍和三镍之间的电位差。 日本DENSOKU电测X射线荧光膜厚度计COSMOS-3X 节省空间小 ·使用双重滤波器，以高精度和适合条件进行测量 X射线荧光膜厚度计COSMOS-3X的特点 除数字滤波器外，还可以使用机械滤波器（双滤波器）在适合条件下进行测量，以便始终获得高精度。 增强的报告创建功能 通过采用MS-Windows软件，您可以轻松捕获测量屏幕并增强报告创建功能。多任务功能可以启用其他过程，包括在测量期间创建报告。 内置5种准直器 准直器的小部分为0.1φmm，可以测量极小的部件。标准，0.1,0.2,0.5,1.0,2.0 自诊断功能和X射线管维护功能 自我诊断功能迅速处理设备故障解决。此外，它还通过添加显示X射线管的使用时间和耐久时间的功能来支持维护安全性。 薄膜厚度测量期间的光谱显示 通过多通道的频谱分析的高速处理，通过简单的操作来执行被测对象的频谱显示。 （处理速度约2-3秒） 显示测量单位的监视图像 将X射线照射单元导入Windows屏幕并显示X射线照射单元。实现放大倍率变化功能，通过准直器改变尺寸。 使用Be window X射线管（可选）提高性能（高精度） 我们为荧光X射线胶片厚度计EX-731准备了Be窗口X射线管（可选）。 是的。通过使用此选项，可以在Cr测量和Ni测量中重复测量精度 关于绩效改进的评论 高能量（高原子序数）Sn测量与以前相同，但能量低（原子序数低） No。）在Cr和Ni测量的情况下，根据膜厚度，Cr为3倍或更多，Ni为2倍或更多。 日本DENSOKU电测X射线荧光膜厚度计EX-731 以高精度测量极小部件，具有出色的可操作性 ·使用双重滤波器，以高精度和适合条件进行测量 X-7荧光膜厚度计EX-731的特点 除数字滤波器外，还可以使用机械滤波器（双滤波器）在适合条件下进行测量，以便始终获得高精度。 自动测量阶段 通过将鼠标移动到测量位置来实现快速定位。此外，如果您注册测量位置，则可以进行连续自动测量。通过坐标校正和通道链接支持各种模式。标准板校准也可以自动测量。 增强的报告创建功能 通过采用MS-Windows软件，您可以轻松捕获测量屏幕并增强报告创建功能。多任务功能可以启用其他过程，包括在测量期间创建报告。 内置5种准直器 准直器的小部分为0.1φmm，可以测量极小的部件。标准，0.1,0.2,0.5,1.0,2.0 自诊断功能和X射线管维护功能 自我诊断功能迅速处理设备故障解决。此外，它还通过添加显示X射线管的使用时间和耐久时间的功能来支持维护安全性。 薄膜厚度测量期间的光谱显示 通过多通道的频谱分析的高速处理，通过简单的操作来执行被测对象的频谱显示。 （处理速度约2-3秒） 显示测量单位的监视图像 将X射线照射单元导入Windows屏幕并显示X射线照射单元。实现放大倍率变化功能，通过准直器改变尺寸。 目测显示被测物体的镀层附着力分布 使用3D图形显示可以一目了然地看到被测物体的镀层厚度分布。 使用Be window X射线管（可选）提高性能（高精度） 我们为荧光X射线胶片厚度计EX-731准备了Be窗口X射线管（可选）。 是的。通过使用此选项，可以在Cr测量和Ni测量中重复测量精度将大大改善。 关于绩效改进的评论 高能量（高原子序数）Sn测量与以前相同，但能量低（原子序数低） No。）在Cr和Ni测量的情况下，根据膜厚度，Cr为3倍或更多，Ni为2倍或更多。 日本DENSOKU电测X射线荧光膜厚度计EX-851 自动对焦 全自动对焦模式 X-8荧光膜厚度计EX-851的特点 只需将测量部件移动到激光指示器的位置，然后关闭门以自动移动到测量值并执行测量。测量后，当门打开时，舞台自动返回到前面。 自动测量阶段 通过将鼠标移动到测量位置来实现快速定位。此外，如果您注册测量位置，则可以进行连续自动测量。通过坐标校正和通道链接支持各种模式。标准板校准也可以自动测量。 采用双滤波器 除数字滤波器外，还可以使用机械滤波器（双滤波器）在适合条件下进行测量，以便始终获得高精度。 增强的报告创建功能 通过采用MS-Windows软件，您可以轻松捕获测量屏幕并增强报告创建功能。多任务功能可以启用其他过程，包括在测量期间创建报告。 内置5种准直器 准直器的小部分为0.1φmm，可以测量极小的部件。标准，0.1,0.2,0.5,1.0,2.0 自诊断功能和X射线管维护功能 自我诊断功能迅速处理设备故障解决。此外，它还通过添加显示X射线管的使用时间和耐久时间的功能来支持维护安全性。 薄膜厚度测量期间的光谱显示 通过多通道的频谱分析的高速处理，通过简单的操作来执行被测对象的频谱显示。 （处理速度约2-3秒） 显示测量单位的监视图像 将X射线照射单元导入Windows屏幕并显示X射线照射单元。实现放大倍率变化功能，通过准直器改变尺寸。 目测显示被测物体的镀层附着力分布 使用3D图形显示可以一目了然地看到被测物体的镀层厚度分布。 使用Be window X射线管（可选）提高性能（高精度） 我们为荧光X射线胶片厚度计EX-731准备了Be窗口X射线管（可选）。 是的。通过使用此选项，可以在Cr测量和Ni测量中重复测量精度将大大改善。 关于绩效改进的评论 高能量（高原子序数）Sn测量与以前相同，但能量低（原子序数低） No。）在Cr和Ni测量的情况下，根据膜厚度，Cr为3倍或更多，Ni为2倍或更多。 因此，可以在短时间内执行与之前相同精度的测量。
便携式薄膜厚度计，提高生产效率
无线测量无电缆。 测量数据可以很容易地传输到个人计算机，并有助于防止测量期间坠落事故。
无需胶片校准即可测量薄膜厚度
新系统，可实现高精度测量
·高精度地测量薄到厚的物体
·也可以测量小面积
·轻松编程特殊校准曲线
·计数校正很容易，不需要GM管预热
大大提高了可操作性和功能測定原理
因此，随着基板和涂层之间的原子序数的差异增加，测量精度增加，并且随着原子序数的差异减小，测量精度降低。 如果原子序数差至少为10％，则可以测量薄膜。
·使用PC轻松查看屏幕
·易于校准和测量
- 可以立即查看组件图和配置文件
·异常值检测功能
在0.7秒内测量绝缘体上的金属膜
測定原理
探头有四个直立的金属销（探头）。使这四个探针与待测量的绝缘体上的金属箔或金属电镀表面接触。 恒定电流（I）通过两个外部探针并测量电压（V）。 接触探针的金属箔或金属镀层的厚度（T）可以在某些条件下使用下式计算。T = K×I÷V其中K是常数因此，可以通过测量两个内探针之间的电压来测量金属箔或金属镀层的厚度。
薄膜厚度计，可以满足短时间测量的时代需求
·一旦开关打开，测量就开始，测量时间在1秒之内。
·晶体振荡法具有高稳定性（±1％）和高精度
·非破坏性，100％检查是可能的
·由于直接阅读，无需转换
轻巧紧凑測定原理
涡电流流动以抵消探头的高频磁场，因此探头的高频电阻发生变化。 这种高频电阻的变化被放大并显示在仪表上。 通过这样做，可以从仪表的波动中读取膜厚度值。 薄膜厚度值和仪表跳动通常不成比例，因此使用直读刻度板直接读取薄膜厚度值。
可以在短的测量时间内测量曲面和球面
·一旦开关打开，测量就开始，测量时间在1秒之内。
·晶体振荡法具有高稳定性（±1％）和高精度
·非破坏性，100％检查是可能的
·由于直接阅读，无需转换
易于阅读数字測定原理
涡电流流动以抵消探头的高频磁场，因此探头的高频电阻发生变化。 高频电阻值的这种变化被放大，曲线校正，并显示为数字值。 因此，膜厚度值可以直接读取为数字。 通过微计算机计算执行曲线校正。 因此，它非常准确且高度稳定
短时非破坏性测量是100％检测的理想选择
·使用个人计算机轻松校准和测量操作
·只需将探头放在物体上并释放它，即可自动捕获测量值
-70特性曲线（校准曲线）作为标准
·为每个渠道注册公司名称，部件号和批号。
数字显示测量值，读数
总频道：40个频道
可以随时更改设备，并自动转换测量值。測定原理
当已经通过高频电流的探针（测量线圈）接近金属时，在金属表面层中产生涡电流。 该涡电流受到高频磁场的强度和频率，金属的导电性，厚度和形状的影响，并且穿透深度和尺寸变化。涡电流流动以抵消探头的高频磁场，因此探头的高频电阻发生变化。 这种高频电阻变化的幅度通常与薄膜厚度值不成比例，因此它会根据内部或用户创建的特性曲线（校准曲线）转换为薄膜厚度值并显示在PC屏幕上。显示量。
·可从任何电镀范围测量
·增加了高灵敏度范围
·校准范围宽达±15％
·C垫片范围的标准设备
轻巧紧凑
我能做到
多层电镀测量，精度高
·电流精度明显高于以前
·可以确认测量部件的表面处理方法
·多层涂层可设置多达5种测量条件
·多可注册50个测量通道
易于操作，易于阅读的屏幕
全功能可测量多达5层
- 使用Windows规范轻松处理数据
·多可注册50个测量通道
·多层涂层可设置多达5种测量条件
·发生异常值时，以红色和警告声音报告测量值。
改进了可操作性和增强功能
极小的部件，具有出色的可操作性
以高精度测量
- 即使在使用多任务功能进行测量期间，也可以进行其他处理，包括创建报告。
·小准直器为0.05mm，可以测量极小的部件
采用双滤波器
此外，还有两种特殊规格可供选择。
·0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
将大大改善。
返回精度得到了提高。在用于表面层的Au的情况下，在两层测量中，一点点
由于精度提高的贡献，层间Ni已经提高了约20％。 X射线荧光膜厚度计
在重复测量精度（标准偏差）的情况下，获得产生荧光X射线强度的过程。
这是由于统计波动，并应用Be窗口X射线管（可选）
在Cr的情况下，它表明荧光X射线强度比传统的标准机器高约9倍。
有你。因此，可以在短时间内执行与之前相同精度的测量。
可以测量大尺寸的基础
- 通过将鼠标定位在测量位置来实现快速定位
- 即使在使用多任务功能进行测量期间，也可以进行其他处理，包括创建报告。
·小准直器为0.05mm，可以测量极小的部件
采用双滤波器
此外，还有两种特殊规格可供选择。
·0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
返回精度得到了提高。在用于表面层的Au的情况下，在两层测量中，一点点
由于精度提高的贡献，层间Ni已经提高了约20％。 X射线荧光膜厚度计
在重复测量精度（标准偏差）的情况下，获得产生荧光X射线强度的过程。
这是由于统计波动，并应用Be窗口X射线管（可选）
在Cr的情况下，它表明荧光X射线强度比传统的标准机器高约9倍。
有你。因此，可以在短时间内执行与之前相同精度的测量。
请考虑采用这种Be窗口X射线管。
可以选择两种测量模式，使测量工作更加顺畅
⇒用激光指示器设置要照射的物体并关闭门。
舞台自动移动和测量。
·半自动对焦模式
⇒以与上面的全自动对焦模式相同的方式设置测量对象。
¡当门关闭时，舞台自动移动并聚焦。
直到手术。
自动对焦
此外，还有两种特殊规格可供选择。
·0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
返回精度得到了提高。在用于表面层的Au的情况下，在两层测量中，一点点
由于精度提高的贡献，层间Ni已经提高了约20％。 X射线荧光膜厚度计
在重复测量精度（标准偏差）的情况下，获得产生荧光X射线强度的过程。
这是由于统计波动，并应用Be窗口X射线管（可选）
在Cr的情况下，它表明荧光X射线强度比传统的标准机器高约9倍。
请考虑采用这种Be窗口X射线管。
